LS 13 320 XR粒度分析仪

对于帮助您发现细微差异的重大改进。

LS 13 320 XR提供来自advanced的同类最佳粒度分布数据pid技术，*可实现高分辨率测量和扩展动态范围。就像LS 13320， XR粒度分析仪提供快速，准确的结果，并帮助您简化工作流程，优化效率。一些大的改进可以帮助您可靠地发现微小的差异，这些差异可能对您的粒子分析数据产生巨大的影响。

资源+工具
技术文档 常见问题 21 CFR第11部分 能力 特征
LS 13 320 XR，レーザー回折, 粒子測定

LS 13 320 XR粒度分析仪功能

发现细微差别

  • 扩展测量范围：10 nm–3500µm
  • 激光衍射正高级偏振强度差分散射(皮德斯)技术可实现低至10 nm的真实数据的高分辨率测量和报告
  • 对单个样品中的多个粒度进行准确、可靠的检测

易于使用的软件

  • 适应软件具有自动通过/失败检查功能
  • 预先配置的方法只需3次或更少的点击即可交付结果
  • 简化了专家和新手用户的分析仪操作
  • 单击鼠标右键覆盖历史数据
  • 直观的用户诊断使您在抽样期间知情
  • 简化了标准化测量的方法创建

自适应软件支持21 CFR第11部分

  • 可定制的安全系统，以满足不同的需求
  • 从4个安全级别中进行选择
  • 高安全性配置支持21 CFR第11部分

PIDS技术*用于直接检测10 nm颗粒

  • 3个光波长(450、600和900 nm)用垂直和水平偏振光照射样品
  • 分析仪在一定角度范围内测量样品的散射光
  • 每个波长的水平和垂直辐射光之间的差异产生高分辨率的粒径分布数据

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